Open Science Research Excellence

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Commenced in January 2007 Frequency: Monthly Edition: International Paper Count: 2

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Leakage Reduction ONOFIC Approach for Deep Submicron VLSI Circuits Design
Abstract:

Minimizations of power dissipation, chip area with higher circuit performance are the necessary and key parameters in deep submicron regime. The leakage current increases sharply in deep submicron regime and directly affected the power dissipation of the logic circuits. In deep submicron region the power dissipation as well as high performance is the crucial concern since increasing importance of portable systems. Number of leakage reduction techniques employed to reduce the leakage current in deep submicron region but they have some trade-off to control the leakage current. ONOFIC approach gives an excellent agreement between power dissipation and propagation delay for designing the efficient CMOS logic circuits. In this article ONOFIC approach is compared with LECTOR technique and output results show that ONOFIC approach significantly reduces the power dissipation and enhance the speed of the logic circuits. The lower power delay product is the big outcome of this approach and makes it an influential leakage reduction technique.

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A Power-Gating Scheme to Reduce Leakage Power for P-type Adiabatic Logic Circuits
Abstract:
With rapid technology scaling, the proportion of the static power consumption catches up with dynamic power consumption gradually. To decrease leakage consumption is becoming more and more important in low-power design. This paper presents a power-gating scheme for P-DTGAL (p-type dual transmission gate adiabatic logic) circuits to reduce leakage power dissipations under deep submicron process. The energy dissipations of P-DTGAL circuits with power-gating scheme are investigated in different processes, frequencies and active ratios. BSIM4 model is adopted to reflect the characteristics of the leakage currents. HSPICE simulations show that the leakage loss is greatly reduced by using the P-DTGAL with power-gating techniques.
Vol:13 No:04 2019Vol:13 No:03 2019Vol:13 No:02 2019Vol:13 No:01 2019
Vol:12 No:12 2018Vol:12 No:11 2018Vol:12 No:10 2018Vol:12 No:09 2018Vol:12 No:08 2018Vol:12 No:07 2018Vol:12 No:06 2018Vol:12 No:05 2018Vol:12 No:04 2018Vol:12 No:03 2018Vol:12 No:02 2018Vol:12 No:01 2018
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